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| >>鹽霧試驗(yàn)箱軍用/民用可靠性環(huán)境試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)總結(jié) |
| 鹽霧試驗(yàn)箱軍用/民用可靠性環(huán)境試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)總結(jié) |
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| 時(shí)間：2015/3/9 8:47:44 |
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鹽霧試驗(yàn)箱軍用/民用可靠性環(huán)境試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)總結(jié)：
GJB128A-97 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
GJB150.11-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
GJB4.11-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)》
GJB548A-96 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
GB/T2423.17-93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法》
GB/T2423.18-2000《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)Kb：鹽霧，交變(氯化鈉溶液)
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法101 鹽霧試驗(yàn)
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
RTCA/DO-160E 機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
鹽霧試驗(yàn)箱通過考核對(duì)材料及其防護(hù)層的鹽霧腐蝕的能力，以及相似防護(hù)層的工藝質(zhì)量比較，同時(shí)可考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力。
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相關(guān)資料 |
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